全部产品分类
首页 / 产品分类 / 电子元器件制造 / 3D影像测量仪

3D影像测量仪

LKE 3D影像量测仪采用双目视觉量测系统,配合先进的算法软件,对被测物进行 量测及输出结果。可以实现植球后芯片金属锡球,或连接器金属弹片正位度及共面度 量测。其优势为非接触、速度快、准确度高等。

联系我们

021-5456 1588

product details

产品详情

简介

LKE 3D影像量测仪应用于CPU Socket、Memary&Dram IC芯片等产品。目前市 场装机量40+台。


简介.jpg

主要技术参数

LKE300
3D TechnologyLKE 3D -Socket Vison 3.1
Max Device Size(mm)100x100
Camera(pixel size)25Mpxl(4.5μm)
Resolution20μm/pxl
IlluminationRed
Line PatternLED
Module size WxHxD in mm760 x630x265
lmage ComputerWin10
3D pin Acc/Rep15 μm
2D pin Acc/Rep10 μm
Speed for LGA 1700 pin800ms Total
Speed for 4000 pins<1.8sec
Host protocolIO 64
检测原理

检测原理.jpg


LKE 3D影像量测仪利用camera1和camera2分别成像,再对影像进行分析计算, 由视差△X、△Z计算出待测物信息。


检测项目

序号

检测项目

BALL SIDE

PIN SIDE

PRODUCT

1

CO

 

2

XO

 

3

YO

 

4

RO

 

5

CX

 

6

CY

 

7

WI

 

 

8

BH

 

 

9

GAP H

 

 

10

WP

 

 

产品系列

型号/规格

LKE100

LKE200

LKE300

LKE400

相机

12M

25M

25M

25M

XY分辨率(um)

12.5

12.8

20

25

FOV(mm)

50x50

66x60

100x100

120x120

量测深度(mm)

3

5

5

5

检测精度(um)

10

10

15

15

取像频率(FPS)

Max 20

Max 30

Max 30

Max 30
外形尺寸

外形尺寸.jpg

LKE100/LKE200:W*H*T=720*630*265mm LKE300/LKE400:W*H*T=760*920*390mm

端子面

静态重复性

端子面-静态重复性.jpg


动态重复性

端子面-动态重复性.jpg


与QV相关性

端子面-与QV相关性.jpg

球面

静态重复性

球面-静态重复性.jpg


动态重复性

球面-动态重复性.jpg


与QV相关性

球面-与QV相关性.jpg

样品数据汇总


CO

XO

YO

静态重复性(P/T%)

动态重复性(P/T%)

QV相关性

静态重复性(P/T%)

动态重复性(P/T%)

QV相关性

静态重复性(P/T%)

动态重复性(P/T%)

QV相关性

端子面

9.87%

19.65%

85.2%

4.25%

8.98%

91.6%

7.78%

8.98%

92.5%

球面

8.36%

15.52%

91.6%

2.94%

5.56%

93.7%

2.69%

7.44

95.4%

应用案例

应用案例.jpg

客户群体

合作伙伴.jpg

Inquiry Me Now, Got The Price.

想了解更多吗?点击询盘 →